詳細(xì)摘要： 1) 支持超大/超重樣品測(cè)試 可搭載的樣品尺寸：“SU3800" 標(biāo)配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉(cāng)，可應(yīng)對(duì)高度為80mm、重量為2kg的樣品?！癝U390...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：珠海市更新時(shí)間：2026-08-19 在線留言深圳市汐品科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 1) 支持超大/超重樣品測(cè)試 可搭載的樣品尺寸：“SU3800" 標(biāo)配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉(cāng)，可應(yīng)對(duì)高度為80mm、重量為2kg的樣品?！癝U390...
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詳細(xì)摘要： 日立高新磁控濺射器（Hitachi Ion Sputter )MC1000采用了電磁管電極，能夠限度地減輕對(duì)樣品的損壞，并在樣品表面涂覆一層均勻粒子。適用于高分...
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詳細(xì)摘要： 日立高新離子研磨裝置IM4000（HITACHI Ion Milling System IM4000）具有斷面加工和平面研磨功能的混合儀器！日立高新離子研磨裝置...
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詳細(xì)摘要： 日立ArBlade 5000離子研磨系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)高產(chǎn)量，并制備廣域橫截面樣品。 離子研磨系統(tǒng)使用通過(guò)在表面上照射氬離子束引起的濺射效應(yīng)來(lái)拋光樣品的表面。樣品預(yù)...
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詳細(xì)摘要： 熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SU5000
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詳細(xì)摘要： 核心理念采用優(yōu)異的成像技術(shù)SU7000可以迅速獲取從大視野全貌圖到表面微細(xì)結(jié)構(gòu)等多種檢測(cè)信號(hào)。全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和檢測(cè)系統(tǒng)，使得裝置可以同時(shí)接收二次電子和背...
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詳細(xì)摘要： MI4050是具有以下特征的高性能聚焦離子束系統(tǒng)：新型電子光學(xué)系統(tǒng)，可達(dá)到高水準(zhǔn)的SIM像分辨率?大束流使加工速度得以提升?提高了低加速電壓的分辨率，使得高品質(zhì)...
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詳細(xì)摘要： 追求的TEM樣品制備工具在設(shè)備及高性能納米材料的評(píng)價(jià)和分析領(lǐng)域，F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。近來(lái)，目標(biāo)觀察物更趨微細(xì)化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進(jìn)一步凸顯...
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詳細(xì)摘要： 1. 搭載兩種透鏡模式的高性能SEM鏡筒HR模式下可實(shí)現(xiàn)高分辨觀察（半內(nèi)透鏡）FF模式下可實(shí)現(xiàn)高精度加工終點(diǎn)檢測(cè)（Timesharing Mode）2. 高通量...
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詳細(xì)摘要： 高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像HAADF-STEM圖像0.136 nm，F(xiàn)FT圖像0.105 nm(高分辨率鏡頭*)HAADF-STEM圖像0.144 nm(標(biāo)...
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詳細(xì)摘要： 以創(chuàng)新的操作性，滿足廣泛領(lǐng)域的需求。新一代TEM"RuliTEM"誕生。"RuliTEM"120 kV透射電子顯微鏡系列，包含配備高襯度透鏡，實(shí)現(xiàn)大視野、高對(duì)比...
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詳細(xì)摘要： 新的電子槍和電子光學(xué)設(shè)計(jì)提高了低加速電壓性能。0.4 nm / 30 kV (SE)1.2 nm / 1 kV (SE)0.34 nm / 30 kV (STE...
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詳細(xì)摘要： 沿用"SU8200系列"的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍*2采用電子束在Flashing后出現(xiàn)的高亮度穩(wěn)定區(qū)域作為穩(wěn)定觀察的區(qū)間，使得低加速電壓條件下兼?zhèn)涓叻直嬗^察和分析的性能...
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詳細(xì)摘要： 標(biāo)配日立生產(chǎn)的照射系統(tǒng)球差校正器（附自動(dòng)校正功能）搭載具有高輝度、高穩(wěn)定性的冷場(chǎng)FE電子槍鏡體和電源等的高穩(wěn)定性使機(jī)體的性能大幅度提升觀察像差校正SEM/STE...
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詳細(xì)摘要： 臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級(jí)。我們以“更高畫(huà)質(zhì)、更易于使用、更易于觀察"為理念，開(kāi)發(fā)出TM4000系列。在此基礎(chǔ)上，我們又推出功能更為多樣的TM4000...
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詳細(xì)摘要： FlexSEM 1000 II，憑借全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測(cè)器，可在加速電壓20 kV下實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開(kāi)發(fā)的用戶界面，具有亮度和對(duì)焦...
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詳細(xì)摘要： 追求理想的三維結(jié)構(gòu)分析通過(guò)自動(dòng)重復(fù)使用FIB制備截面和進(jìn)行SEM觀察，采集一系列連續(xù)截面圖像，并重構(gòu)特定微區(qū)的三維結(jié)構(gòu)。采用的鏡筒布局，從材料、設(shè)備到生物組織—...
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